NEED Lab 박사 과정 박종경 학생, 2012 Symposium on VLSI Technology에 논문 선정
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NEED LAB 박사 과정, 박종경 학생의 논문
"Dramatic Improvement of high-K Gate Dielectric Reliability by Replacing Metal Gate Electrode with Mono-Layer Graphene" 이 "2012 Symposium on VLSI Technology" 에 선정 되었습니다.
축하합니다.
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18회 다운로드 | DATE : 2015-03-18 14:05:48
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