플래쉬 메모리 소자에서의 초기 VT 불안정 현상 개선에 관한 연구
- Year
- 2013
- Author
- 박종경, 이석희, 이기홍, 피승호, 조병진
- Conference
- 20th Korean Conference on Semiconductors
박종경, 이석희, 이기홍, 피승호, 조병진, "플래쉬 메모리 소자에서의 초기 VT 불안정 현상 개선에 관한 연구", 20th Korean Conference on Semiconductors, Hoengsung, Korea, Feb 4-6, 2013.
Feb 4-6, 2013.
Hoengsung, Korea
